基于X射线的非通视方位角精密测量装置与方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及空间角度精密测量装置，具体涉及一种基于X射线的非通视方位角精密测量装置与方法。解决了现有基于光学方位角度精密测量的装置和方法，需在被测对象表面开设通光口，使被测对象的气动外形和表面气密性被破坏，导致被测对象无法满足要求的技术问题。本发明专利技术测量装置包括两个X射线源组件、两个成像模组件、合作靶标和计算机。X射线源组件包括X射线管和准直元件；成像模组件包括X射线探测转换器和可见光成像探测器；X射线管发出X射线经准直元件形成准直X射线束，入射至被测对象内并照射合作靶标，透过合作靶标的光经成像模组件投影成像，通过计算机提取合作靶标成像像素坐标，计算得到被测对象的方位角度值。计算得到被测对象的方位角度值。计算得到被测对象的方位角度值。

【技术实现步骤摘要】
基于X射线的非通视方位角精密测量装置与方法


[0001]本专利技术涉及空间角度精密测量装置，主要涉及一种基于X射线的非通视方位角精密测量装置与测量方法。

技术介绍

[0002]角度测量是空间姿态测量技术的重要组成部分，高精度角度测量在运动控制、大型器件的变形量测量、仪器加工与校准以及国防领域等工程应用中都有着重要作用。
[0003]基于光学的高精度角度测量方法是高精度角度测量的一种，其具有非接触、高精度等优点，因此被广泛应用。目前常用的基于光学方位角度精密测量方法主要有光学自准直法、激光偏振测量法和莫尔条纹法。其中，光学自准直法的应用最为广泛，是商用化程度最高的角度测量方法，因其测量精度高、技术成熟等优点被广泛地应用于科研、国防等领域。激光偏振测量法的测量系统组成复杂，目前已逐步被淘汰。光学自准直法、激光偏振测量法和莫尔条纹法三种方法均存在一个共同的不足之处，即该三种方法均采用可见光进行测量，需要在被测对象表面开设通光口，使被测对象的气动外形和表面气密性遭到一定程度的破坏，导致被测对象的气动外形和表面气密性难以满足工作要求。
专本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于X射线的非通视方位角精密测量装置，其特征在于：包括设置在被测对象(5)一侧的两个X射线源组件(2)、设置在被测对象(5)另一侧且分别与两个X射线源组件(2)一一对应的两个成像模组件(6)、设置在被测对象(5)内部的合作靶标(4)，以及计算机(12)；所述合作靶标(4)包括连接杆和分别连接在连接杆两端的两个金属球；所述X射线源组件(2)包括驱动模块(1)、X射线管(8)和设置在X射线管(8)光路上的准直元件(9)，驱动模块(1)用于驱动X射线管(8)发出高能X射线，高能X射线经准直元件(9)形成准直X射线束；所述两个金属球分别位于两个准直X射线束的出射路径上，且两个准直X射线束的出射路径分别与连接杆垂直；所述成像模组件(6)包括依次设置在准直X射线束出射路径上的X射线探测转换器(10)和可见光成像探测器(11)；经准直元件(9)形成的准直X射线束入射至被测对象(5)内并照射到对应的金属球上，透过金属球的准直X射线束经X射线探测转换器(10)转换为可见光，再通过可见光成像探测器(11)进行投影成像；所述计算机(12)分别与两个可见光成像探测器(11)进行通信连接。2.根据权利要求1所述的基于X射线的非通视方位角精密测量装置，其特征在于：所述准直元件(9)为准直光栅或微通道板准直器。3.根据权利要求1所述的基于X射线的非通视方位角精密测量装置，其特征在于：所述准直元件(9)为毛细管准直器。4.根据权利要求3所述的基于X射线的非通视方位角精密测量装置，其特征在于：所述X射线管(8)采用微焦管。5.根据权利要求4所述的基于X射线的非通视方位角...

【专利技术属性】
技术研发人员：郝冲，肖茂森，王致强，王晓伟，陆卫国，苏桐，闫欣，申亮亮，韩新建，
申请(专利权)人：中国科学院西安光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：