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本申请公开了一种测试结构、量子比特的制造方法及量子芯片，属于量子计算技术领域。测试结构，包括形成于衬底上的超导元件，形成于所述衬底上且与所述超导元件连接的超导量子干涉装置，以及形成于所述衬底上且部分的覆盖所述超导元件的导电膜。本申请提出的方...
该专利属于本源量子计算科技（合肥）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过本源量子计算科技（合肥）股份有限公司授权不得商用。

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