温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明专利公开了一种基于光学干涉实时测量单微粒或微泡粒径的方法。该方法包括以下步骤：预先标定已知材质不同粒径的微粒或微泡粒径与加权光强及离焦距离的函数关系；记录未知微粒或微泡样品的实时光学干涉图；通过数值计算重建三维空间中每个微粒或微泡的散...
该专利属于华南理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过华南理工大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。