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本发明公开了一种芯片存储器的测试方法、存储介质。本发明提出的芯片存储器的测试方法，包括：读取芯片的电路设计文件，并找到芯片的所有存储器；对所有存储器进行分组，包括：兼容性分组和/或复用性分组；所述兼容性分组的定义为将可被同一个控制器控制、可...
该专利属于深圳国微福芯技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳国微福芯技术有限公司授权不得商用。

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