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本申请涉及集成电路领域，公开了一种数字IP测试系统及方法，可以实现不同数字功能的遍历测试。该系统包括上位机、第一下载器、第二下载器、待测器件、控制器、监控设备以及通信数据线。上位机通过第一下载器将测试程序下载至待测器件，通过第二下载器将控制...
该专利属于上海灵动微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海灵动微电子股份有限公司授权不得商用。

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