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本发明公开了一种反熔丝FPGA高速测试电路，涉及集成电路领域，包括测试采集模块和测试输出模块。所述测试采集模块分布于反熔丝FPGA片上的布线资源内，包括开漏输出NMOS管和开关MOS模块，可通过开关MOS模块对逻辑模块和/或IO模块的输出进...
该专利属于成都市硅海武林科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都市硅海武林科技有限公司授权不得商用。

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