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本申请适用于金锡盖板点焊水平检验技术领域，提供了一种点焊检验方法、装置、电子设备及存储介质，该点焊检验方法包括：将点焊处理后的金锡盖板水平放置到加热设备中，按照预设的封装工艺条件，控制加热设备对金锡盖板进行变温加热；当变温加热结束后，将金锡...
该专利属于中国电子科技集团公司第十三研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第十三研究所授权不得商用。

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