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本发明涉及GaN器件测试技术，公开了一种GaN功率循环测试系统及方法，其大功率恒流电源模块用于提供GaN测试器件的大电流；小功率恒流源模块用于提供GaN测试器件结温测试的电流；GaN测试器件一端与高速差分采集模块连接，另一端与低速差分采集模...
该专利属于杭州中安电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州中安电子有限公司授权不得商用。

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