温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及数字IC芯片测试技术，公开了一种数字IC芯片的功能测试的方法和系统，其测试矢量压缩模块，用于将接收的数据进行编码压缩，并按照索引号分批存储；测试矢量解码运算模块，用于将测试矢量压缩模块里的数据按一定的索引号读出解码，并按一定的逻辑...
该专利属于杭州中安电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州中安电子有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。