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本发明揭示了一种芯片测试方法及系统，其中芯片测试方法包括：接收测试模式选择信号，判断所述模式选择信号是否指示待测芯片进入在线测试模式；若是，则保持所述待测芯片中的中央处理器和IP硬核通信断开，直接根据外部测试指令对所述待测芯片的至少一个IP...
该专利属于芯弦半导体（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过芯弦半导体（苏州）有限公司授权不得商用。

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