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本发明涉及集成电路可靠性筛选试验技术领域，特别涉及一种通用的老炼筛选试验系统及其方法。所述通用的老炼筛选试验方法包括：老炼筛选试验驱动程序的编程、存储及程序库的建立；解决老炼筛选试验板所需供给电压的时序控制及大电流需求；被测芯片电压电流的监...
该专利属于中国电子科技集团公司第五十八研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第五十八研究所授权不得商用。

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