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本方案涉及一种半导体测试机的时钟同步方法及系统。所述方法包括：通过半导体测试机内部的同步板卡上FPGA芯片生成同频同源校准脉冲信号以及同频同源时钟信号通过背板等长走线连接到各资源板卡；利用各资源板卡上FPGA内部的触发器及进位链，使用时钟信...
该专利属于苏州芯迈智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州芯迈智能科技有限公司授权不得商用。

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