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本申请实施例提供一种异常测试结构获取方法、验证方法及相关装置，其中，异常测试结构获取方法包括获取测试数据集；获取驱动电流不满足对应的驱动电流阈值，或漏电流不满足对应的漏电流阈值的单参数异常数据，得到单参数异常测试结构集和单参数正常测试结构集...
该专利属于海光集成电路设计（北京）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过海光集成电路设计（北京）有限公司授权不得商用。

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