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本发明提供了一种SIW宽角扫描天线阵去耦方法，用于解决相控阵天线扫描时阵元间存在耦合的技术问题。本发明公开了一种SIW宽角扫描天线阵去耦方法，使用遗传算法优化阵元之间特定位置有无金属柱，引入新的耦合来抵消原有的耦合，以实现去耦。方法包括以下...
该专利属于电子科技大学长三角研究院（湖州）所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学长三角研究院（湖州）授权不得商用。

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