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本申请提供一种基于双针孔的原位光谱测试装置，包括：反射镜片、光谱仪以及图像采集器，反射镜片上设置至少两个入射孔；反射镜片设置于光谱仪的入射位置处，至少两个入射孔位于光谱仪的入射狭缝所在的区域；每个入射孔的位置均与一个入射光束的入射位置对应；...
该专利属于深圳综合粒子设施研究院所有，仅供学习研究参考，未经过深圳综合粒子设施研究院授权不得商用。

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