一种基于双针孔的原位光谱测试装置制造方法及图纸

本申请提供一种基于双针孔的原位光谱测试装置，包括：反射镜片、光谱仪以及图像采集器，反射镜片上设置至少两个入射孔；反射镜片设置于光谱仪的入射位置处，至少两个入射孔位于光谱仪的入射狭缝所在的区域；每个入射孔的位置均与一个入射光束的入射位置对应；光谱仪用于接收每个入射光束中穿过入射孔的光束，图像采集器用于接收每个入射光束中未进入入射孔且被反射镜片反射的光束。通过反射镜片上的入射孔将样品正反面的多束入射光信号同时聚焦在同一个光谱仪以及图像采集器，低成本地实现了样品正反面的原位图像观察、温度测试和压力标定等多路光谱测试。力标定等多路光谱测试。力标定等多路光谱测试。

【技术实现步骤摘要】
一种基于双针孔的原位光谱测试装置


[0001]本申请属于光谱测试领域，尤其涉及基于双针孔的原位光谱测试装置。

技术介绍

[0002]金刚石对顶砧是研究极端温度和压力条件下物质结构和性质的主要装置。在极端温度和压力条件下，腔体内的温度和压力存在明显的梯度分布。例如，当压砧直径为200μm，中心压力为100GPa时，压砧面从中心到边缘的压力梯度约为1GPa/μm。当加热激光光斑直径20μm，中心温度为3000K时，光斑内的温度梯度达到300K/μm。因此，为了研究金刚石对顶砧内的样品特性，需要对样品进行准确定位，以保证可以获得同一样品位置处的温度、压力参数以及样品图像。
[0003]为了原位测量样品正反两面的温度、压力参数以及样品图像，至少需要两个光束照射样品，再对经样品反射的光束进行光谱分析和成像分析，因此一般情况下需要至少两个光谱仪和图像分析器。光谱仪的成本较高，因此样品测试成本较高。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本申请实施例提供了一种基于双针孔的原位光谱测试装置，通过一个光谱仪即可对至少两个入射光束进行光谱测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于双针孔的原位光谱测试装置，其特征在于，包括：反射镜片、光谱仪以及图像采集器，所述反射镜片上设置至少两个入射孔；所述反射镜片设置于所述光谱仪的入射位置处，至少两个所述入射孔位于所述光谱仪的入射狭缝所在的区域；每个所述入射孔的位置均与一个入射光束的入射位置对应；所述光谱仪用于接收每个所述入射光束中穿过所述入射孔的光束，所述图像采集器用于接收每个所述入射光束中未进入所述入射孔且被所述反射镜片反射的光束。2.如权利要求1所述的基于双针孔的原位光谱测试装置，其特征在于，所述入射孔的数量为两个，两个入射孔的孔间距为75微米。3.如权利要求2所述的基于双针孔的原位光谱测试装置，其特征在于，所述入射孔的形状为圆形，所述入射孔的直径为50微米。4.如权利要求1所述的基于双针孔的原位光谱测试装置，其特征在于，所述入射光束包括X射线，所述反射镜片远离所述光谱仪的一侧设置涂层，所述涂层的成分为对X射线敏感的荧光粉。5.如权利要求1所述的基于双针孔的原位光谱测试装置，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭大勇，李雷，李欣，李鑫，
申请(专利权)人：深圳综合粒子设施研究院，
类型：发明
国别省市：