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特征点位置检测方法及电子装置制造方法及图纸
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文档序号:38584639
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本发明提供一种特征点位置检测方法及电子装置。所述方法包括:取得特定物体上的多个特征点相对于第一取像组件的多个第一相对位置;取得特定物体上的所述多个特征点相对于第二取像组件的多个第二相对位置;以及反应于判定第一取像组件不可靠,基于各特征点的历...
该专利属于宏碁股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过宏碁股份有限公司授权不得商用。
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