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本实用新型公开了一种半导体成品质检装置，包括载板，载板的上方活动设置检测端子，载板的底部设置微调装置，微调装置包括微调凸轮，微调凸轮与转动柄偏心连接，转动柄的末端设置转动手轮。本实用新型的目的是提供一种成本较低、工作可靠的半导体成品质检装置...
该专利属于无锡依可提诺智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过无锡依可提诺智能科技有限公司授权不得商用。

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