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本发明公开了一种带散射校正的X射线能谱估计方法，包括：对样品进行扫描得到原始CT投影数据；构造样品模型，对样品模型进行散射信号模拟，估计出探测器外壳带来的散射信号；对原始CT投影数据进行散射校正，得到散射校正后的投影数据；计算样品模型各个角...
该专利属于南方科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过南方科技大学授权不得商用。

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