一种带散射校正的X射线能谱估计方法技术

本发明专利技术公开了一种带散射校正的X射线能谱估计方法，包括：对样品进行扫描得到原始CT投影数据；构造样品模型，对样品模型进行散射信号模拟，估计出探测器外壳带来的散射信号；对原始CT投影数据进行散射校正，得到散射校正后的投影数据；计算样品模型各个角度下的模型厚度；根据散射校正后的投影数据和各个角度下的模型厚度进行能谱估计。采用本发明专利技术提供的带散射校正的X射线能谱估计方案，更能准确快速估计出X射线的探测能谱。计出X射线的探测能谱。计出X射线的探测能谱。

【技术实现步骤摘要】
一种带散射校正的X射线能谱估计方法


[0001]本专利技术涉及X射线
，特别是关于一种带散射校正的X射线能谱估计方法。

技术介绍

[0002]在大多数临床CT扫描仪中，X射线源往往是多色的。探测器探测得到的投影数据，除去散射信号影响，还受X射线源能谱分布和探测器响应的影响。
[0003]现有技术中常使用如下模型来刻画X射线穿过被测物体的衰减：
[0004][0005]其中，I0(l)和I(l)为沿着路径l穿过被测物体前和后的X射线信号，Ω
E
是能量取值空间，φ
d
(E):＝φ(E)R(E)为探测器探测到的能谱，E表示能量值，φ(E)是X射线能谱，R(E)是探测器响应函数，μ
tot
(x,E)线性衰减系数，Sc
l
是与路径l对应的探测器像素接收到的散射信号强度。
[0006]由公式(1)可知，准确重建出CT图像(即准确估计出被测物质的线性衰减系数)，除了考虑散射信号的影响外，还需要事先估计出准确的X射线能谱。
[0007]预先估计出准确的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种带散射校正的X射线能谱估计方法，其特征在于，包括：步骤1，对样品进行扫描得到原始CT投影数据；步骤2，构造样品模型，对样品模型进行散射信号模拟，估计出探测器外壳带来的散射信号；步骤3，对原始CT投影数据进行散射校正，得到散射校正后的投影数据其中，其中，表示校正探测器外壳和被测物体带来的散射信号后的传输数据；I
*
(l
j
)和分别表示校正探测器外壳带来的散射信号后的穿过样品前和后的X射线信号的强度；Sc
j
是与路径l
j
对应的探测器像素接收到的散射信号强度；Ω
E
是预设能量取值空间；φ
d
(E):＝φ(E)R(E)为探测器探测到的能谱，φ(E)是X射线能谱，R(E)是探测器响应函数，μ
tot
(x,E)线性衰减系数；l
j
表示X射线路径，j表示第j条X射线路径，J表示X
‑
射线路径的指标集；步骤4，计算样品模型各个角度下的模型厚度；步骤5，根据散射校正后的投影数据和各个角度下的模型厚度进行能谱估计；包括：对式(11)做离散化处理，得到式(12)和式(13)：对式(11)做离散化处理，得到式(12)和式(...

【专利技术属性】
技术研发人员：林桂元，邓世沃，陈爱永，
申请(专利权)人：南方科技大学，
类型：发明
国别省市：