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本实用新型公开了一种半导体芯片测试插座，包括应用于半导体芯片测试的测试插座本体，所述测试插座本体的上部安装有盖板，所述盖板的底部表面开设有凹槽，该凹槽的两侧侧壁分别滑动连接有挤压板和移动板，所述挤压板和移动板相互靠近的一侧四角均设置有第二弹...
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