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本发明提供了一种光学元件缺陷检测方法、装置及存储介质，涉及光学元件缺陷检测技术领域。所述方法包括：获取待测元件的初始荧光强度数据，并对初始荧光强度数据进行去噪处理，得到第一荧光强度数据；获取仪器响应函数，并根据仪器响应函数和第一荧光强度数据...
该专利属于宁波钢铁有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过宁波钢铁有限公司授权不得商用。

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