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本申请提供一种eMMC芯片缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：发送缺陷检测指令至所述待测试芯片，所述缺陷检测指令用以指示所述待测试芯片在识别到CMD63时进行记录；在接收到所述待测试芯片返回的缺陷检测指令响应后判断是否需要再...
该专利属于合肥康芯威存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥康芯威存储技术有限公司授权不得商用。

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