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本发明公开了一种基于材料显微组织图像的介观层次裂纹自动统计方法，属于介观层次材料科学领域，能够简便且准确地对裂纹进行定量统计。首先对材料显微组织图像进行灰度矩阵处理，建立与材料显微组织图像像素点相对应的有限元网格单元，根据生成的有限元网格单...
该专利属于北京理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京理工大学授权不得商用。

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