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用于显微镜检查的半导体带电粒子检测器制造技术
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下载用于显微镜检查的半导体带电粒子检测器的技术资料
文档序号:38506880
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可以提供一种用于带电粒子装置的检测器,包括感测元件,该感测元件包括二极管;和电路,该电路被配置为用于检测由电子撞击感测元件引起的电子事件,其中电路包括电压监测设备和复位设备,其中复位设备被配置为通过将跨二极管的电压设置为预定值来定期复位二极...
该专利属于ASML荷兰有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过ASML荷兰有限公司授权不得商用。
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