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本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种相机摆镜摆角扫描特性测量装置。该装置主要包括高稳定工作台，固定在高稳定工作台一端的摆镜摆角扫描系统、固定在高稳定工作台的另一端的高精度回转系统；固定在高精度回转系统上的高精度圆光栅测角系统和固定在圆光...
该专利属于北京理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京理工大学授权不得商用。

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