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本发明公开了一种CIS芯片测试方法及测试系统，该测试方法应用于CIS芯片测试系统，CIS芯片测试系统包括中控单元和测试单元，包括：当待测试CIS芯片被加入测试平台后，中控单元生成关于待测试的CIS芯片的测试任务，指示测试单元执行所述测试任务...
该专利属于上海微阱电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海微阱电子科技有限公司授权不得商用。

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