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本发明实施例提供了一种芯片验证中支持热备和恢复的测试设备及相关方法，测试设备包括热备模块，恢复模块和功能模块；热备模块被配置为，用于通过配置总线获取芯片配置软件下发的寄存器配置序列，基于寄存器配置序列依次确定多个寄存器操作码，并将寄存器操作...
该专利属于新华三半导体技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过新华三半导体技术有限公司授权不得商用。

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