芯片验证中支持热备和恢复的测试设备及相关方法技术

本发明专利技术实施例提供了一种芯片验证中支持热备和恢复的测试设备及相关方法，测试设备包括热备模块，恢复模块和功能模块；热备模块被配置为，用于通过配置总线获取芯片配置软件下发的寄存器配置序列，基于寄存器配置序列依次确定多个寄存器操作码，并将寄存器操作码存储至操作码备份文件；恢复模块被配置为，用于接收芯片配置软件下发的恢复指令，恢复指令中包含用于表征恢复点的寄存器操作码的第一数量；按照寄存器操作码的存储顺序，从操作码备份文件中依次获取第一数量的寄存器操作码，并基于获取到的寄存器操作码对功能模块进行重新配置。能够降低验证环境的恢复时间，提高芯片原型验证效率。型验证效率。型验证效率。

【技术实现步骤摘要】
芯片验证中支持热备和恢复的测试设备及相关方法


[0001]本专利技术涉及半导体
，特别是芯片验证中支持热备和恢复的测试设备及相关方法。

技术介绍

[0002]在芯片设计的过程中，芯片的原型验证是一个非常重要的环节，原型验证能够在芯片制造之前发现设计中的问题，对芯片的成功起着至关重要的作用。对于不同模块和整个系统级的原型验证可能采用不同的验证平台，主要的验证平台有EDA(Electronic Design Automation，电子设计自动化)、Emulation(EMU，硬件仿真)。
[0003]由于EDA所能仿真的规模较小，且仿真的频率较慢，所以EDA主要用来做模块级或者是小系统级的验证，对于完整级的验证主要采用Emulation平台来进行。Emulation支撑芯片规模大，定位手段成熟，可靠性和稳定性高，是大型芯片的验证的必备设备。在20亿门的大型网络芯片的验证中，通常在Emulation里通过软件配置各种功能，进行芯片的系统功能验证。
[0004]在验证平台上，芯片的仿真速率只能做到实际速率的1/1000，并且，芯片本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片验证中支持热备和恢复的测试设备，其特征在于，所述测试设备包括热备模块，恢复模块和功能模块；所述热备模块被配置为，用于通过配置总线获取芯片配置软件下发的寄存器配置序列，基于所述寄存器配置序列依次确定多个寄存器操作码，并将所述寄存器操作码存储至操作码备份文件；其中，所述寄存器配置序列用于对所述功能模块进行配置；所述寄存器操作码包括：用于表征寄存器地址的地址比特、用于表征寄存器操作值的数据比特和用于表征读写操作类型的操作类型比特；所述恢复模块被配置为，用于接收所述芯片配置软件下发的恢复指令，所述恢复指令中包含用于表征恢复点的所述寄存器操作码的第一数量；按照所述寄存器操作码的存储顺序，从所述操作码备份文件中依次获取所述第一数量的寄存器操作码，并基于获取到的寄存器操作码对所述功能模块进行重新配置。2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述热备模块包括操作码生成器，先进先出FIFO结构的第一缓冲器和操作码存储器；所述操作码生成器被配置为，用于基于所述寄存器配置序列依次确定多个寄存器操作码，并将所述寄存器操作码写入所述第一缓冲器的写端口；所述第一缓冲器被配置为，用于缓存所述寄存器操作码；所述操作码存储器被配置为，用于从所述第一缓冲器的读端口读取所述寄存器操作码，并将读取到的寄存器操作码存储至所述操作码备份文件。3.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，所述热备模块还包括操作码计数器；所述操作码计数器被配置为，用于记录写入所述第一缓冲器的寄存器操作码的第二数量，所述操作码计数器中的所述第二数量可被所述芯片配置软件通过所述配置总线读取；所述芯片配置软件在完成一组或多组所述寄存器配置序列的下发后读取到的所述第二数量用于表征备份点；所述恢复点是从所述备份点中预先确定的。4.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述恢复模块包括操作码恢复寄存器、操作码读取器、FIFO结构的第二缓冲器和操作码执行器；所述操作码恢复寄存器被配置为，用于获取所述芯片配置软件下发的恢复指令中包含的所述第一数量；所述操作码读取器被配置为，用于从所述操作码恢复寄存器中读取所述第一数量，按照所述寄存器操作码的存储顺序，从所述操作码备份文件中依次读取所述第一数量的寄存器操作码，将读取到的寄存器操作码依次写入所述第二缓冲器的写端口...

【专利技术属性】
技术研发人员：秦海洋，
申请(专利权)人：新华三半导体技术有限公司，
类型：发明
国别省市：