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本发明提供了一种用于有机体器件内部异物分析的制样及检测方法，所述制样方法包括以下步骤：(1)对有机体器件内部的异物进行定位，然后在有机体器件中建立通道直至露出异物；(2)采用聚焦离子束对步骤(1)所述的异物依次进行第一切割和第二切割，得到含...
该专利属于胜科纳米（苏州）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过胜科纳米（苏州）股份有限公司授权不得商用。

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