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本发明公开一种基于贝叶斯分类器的隔离开关缺陷分析方法，包括以下步骤：S1、模拟设置隔离开关的若干组缺陷类别以及缺陷程度，获得各组缺陷类别和缺陷程度状态下对应的电机电流；S2、将电机电流数据按照时间间隔进行取样，构成离散时间序列，并进行归一化...
该专利属于武汉大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉大学授权不得商用。

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