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本实用新型公开了一种用于加速度计的测试机构，包括底座、上盖、锁紧件及压块。底座用于承载加速度计的芯片；上盖可转动地连接于所述底座，且所述上盖转动的过程中具有压紧位置；锁紧件在同时与所述底座及所述上盖连接时将所述上盖固定于所述压紧位置；压块设...
该专利属于上海矽睿科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海矽睿科技股份有限公司授权不得商用。

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