用于加速度计的测试机构及测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种用于加速度计的测试机构，包括底座、上盖、锁紧件及压块。底座用于承载加速度计的芯片；上盖可转动地连接于所述底座，且所述上盖转动的过程中具有压紧位置；锁紧件在同时与所述底座及所述上盖连接时将所述上盖固定于所述压紧位置；压块设置于所述上盖，且所述压块具有开设避位槽的压紧面；当所述上盖处于所述压紧位置时，所述压紧面抵压于所述芯片，以将所述芯片压紧固定，所述避位槽在所述芯片上的投影覆盖所述芯片内的质量块。由于避位槽在芯片上的投影覆盖质量块，即压紧面与质量块相错开，故压块的压力不会直接传递至质量块，避免压力干扰测试结果，确保测试精度。本实用新型专利技术还涉及一种用于加速度计的测试系统。的测试系统。的测试系统。

【技术实现步骤摘要】
用于加速度计的测试机构及测试系统


[0001]本技术涉及加速度计测试
，特别是涉及一种用于加速度计的测试机构及测试系统。

技术介绍

[0002]加速度计是一种惯性传感器，能够测量物体的加速度。现有的加速度计由于采用了MEMS(Micro
‑
Electro
‑
Mechanical System，微机电系统)技术，尺寸相对传统的加速度计大大缩小，而且MEMS加速度计还具有功耗低、成本低等优点，故MEMS加速度计被广泛应用于消费电子、汽车电子、工业控制、航空航天及国防军事等诸多领域。
[0003]加速度计的精度和性能会直接影响惯性导航设备的精度和性能，故加速度计在加工装配完成后需要经过性能指标测试。现有的测试设备是通过压块将待测试的加速度计压紧固定，但是压块压紧加速度计的面为平面，平面压块直接将力传递至加速度计的质量块上，使得平面压块的力干扰测试结果。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是提供一种不会干扰加速度计的测试结果，确保测试精度的用于加速度计的测试机构及测试系统。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于加速度计的测试机构，其特征在于，包括：底座，用于承载加速度计的芯片；上盖，可转动地连接于所述底座，且所述上盖转动的过程中具有压紧位置；锁紧件，可拆卸地连接于所述底座与所述上盖之间，以在同时与所述底座及所述上盖连接时将所述上盖固定于所述压紧位置；及压块，设置于所述上盖，且所述压块具有压紧面，所述压紧面开设有避位槽；当所述上盖处于所述压紧位置时，所述压紧面抵压于所述底座上的所述芯片，以将所述芯片压紧固定，所述避位槽在所述芯片上的投影覆盖所述芯片内的质量块。2.根据权利要求1所述的用于加速度计的测试机构，其特征在于，所述上盖开设有安装孔，所述测试机构还包括连接件，所述连接件可拆卸地装设于所述安装孔内，所述压块设置于所述连接件。3.根据权利要求2所述的用于加速度计的测试机构，其特征在于，所述安装孔沿第一方向贯穿所述上盖，所述测试机构还包括限位块，所述限位块设置于所述上盖沿所述第一方向的一侧，且所述限位块覆盖所述安装孔；当所述连接件装设于所述安装孔内时，所述连接件沿所述第一方向的一端可抵接于所述限位块，所述压块设置于所述连接件远离所述限位块的一端，且所述压块伸出所述安装孔。4.根据权利要求3所述的用于加速度计的测试机构，其特征在于，所述连接件抵接于所述限位块的一端可伸出所述安装孔；所述测试机构还包括紧固件，所述紧固件包括相互连接的连接杆及紧固头，所述连接杆可穿过所述限位块并可拆卸地连接于所述上盖，且所述连接杆沿所述第一方向可调节位置；所述连接杆沿所述第一方向调节位置的过程中，...

【专利技术属性】
技术研发人员：王清华，
申请(专利权)人：上海矽睿科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：