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本发明涉及一种激光器芯片老化测试装置，涉及芯片可靠性测试技术领域，其包括测试本体、温控热沉板、测试夹具、电加热片、风冷组件及散热组件。本发明通过设置上述结构，能够调节散热效率，对于不同种类的芯片，能够辅助加热或散热，能够适应不同功率芯片的老...
该专利属于武汉普赛斯电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉普赛斯电子股份有限公司授权不得商用。

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