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本实用新型公开了一种芯片测试用的固定组件，属于芯片测试领域，一种芯片测试用的固定组件，包括测试台，测试台为下表面开口的空心立方体结构，测试台上表面的中间垂直开设有方孔a，测试台的内部沿水平方向设置有承载台，承载台的内部设置有容纳机构，测试台...
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