下载芯片测试夹具的技术资料

文档序号:38394063

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本发明属于半导体技术领域,公开了芯片测试夹具。该芯片测试夹具包括导热底座、探针机构和散热机构,导热底座中部设置有容纳槽,容纳槽内设置有定位框,定位框用于对容纳槽内的产品定位;探针机构设置于导热底座背离容纳槽的一侧,探针机构的检测端穿过容纳槽...
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