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一种芯片测试限位机构制造技术
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文档序号:38384350
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本实用新型公开了一种芯片测试限位机构,包括两个固定座,两个所述固定座的内部均活动套接有安装轴,所述安装轴的外侧面均活动套接有延长架,两个所述延长架相对靠近的均固定安装有固定导轨,所述延长架位于固定导轨的中部。本实用新型通过导向块的导向使得两...
该专利属于宁波芯测电子科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过宁波芯测电子科技有限公司授权不得商用。
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