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本发明涉及光缆管理领域，特别是涉及一种光纤余长及光缆寿命预测的方法和装置。主要包括：采集光纤的环境影响因素，其中，环境影响因素包括雷击、覆冰、风摆、自重和温度中的一项或多项；计算每种环境影响因素相应的光缆比载，根据光缆比载计算光纤余长；根据...
该专利属于华中师范大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中师范大学授权不得商用。

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