一种光纤余长及光缆寿命预测的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及光缆管理领域，特别是涉及一种光纤余长及光缆寿命预测的方法和装置。主要包括：采集光纤的环境影响因素，其中，环境影响因素包括雷击、覆冰、风摆、自重和温度中的一项或多项；计算每种环境影响因素相应的光缆比载，根据光缆比载计算光纤余长；根据环境影响因素的历史数据生成历史输入数据，使用历史输入数据对神经网络进行训练，建立光纤余长及光缆寿命的预测模型；根据当前环境影响因素生成当前输入数据，利用预测模型，根据当前输入数据对光纤余长和光缆寿命进行预测。本发明专利技术综合考虑光缆的多种环境影响因素，使用神经网络对光纤的余长进行预测，并根据余长对光缆的寿命极限进行预测。进行预测。进行预测。

【技术实现步骤摘要】
一种光纤余长及光缆寿命预测的方法和装置


[0001]本专利技术涉及光缆管理领域，特别是涉及一种光纤余长及光缆寿命预测的方法和装置。

技术介绍

[0002]中国光纤光缆经过近40多年的发展，其生产工艺已十分成熟，光纤光缆的使用量也逐年增加。目前，国内部分老通信线路已达到或超过光缆的预期寿命，运营商、电力行网等客户开始着眼对这些光缆线路进行可靠性及寿命的评估，老线路的延寿或更替已逐渐成为国内外客户关注的热点问题，因此对光缆所处的状态进行预测是十分重要的。
[0003]经过调研可知，目前已有的光缆寿命预测方法，要么考虑情况单一，比如单一考虑风吹影响；要么在实验过程中都需要设定许多理想条件，比如设定光缆所受应力或者温度恒定。但实际情况下，光缆所受到应力和温度应当是时刻变化的，故而这些方法都不能对光缆寿命有一个很好的预测。
[0004]鉴于此，如何克服现有技术所存在的缺陷，解决现有技术由于预测条件限制导致光缆寿命预测不准确的现象，是本
待解决的问题。

技术实现思路

[0005]针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本专利本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光纤余长及光缆寿命预测的方法，其特征在于，具体包括：采集光纤的环境影响因素，其中，环境影响因素包括雷击、覆冰、风摆、自重和温度中的一项或多项；计算每种环境影响因素相应的光缆比载，根据光缆比载计算光纤余长；根据环境影响因素的历史数据生成历史输入数据，使用历史输入数据对神经网络进行训练，建立光纤余长及光缆寿命的预测模型；根据当前环境影响因素生成当前输入数据，利用预测模型，根据当前输入数据对光纤余长和光缆寿命进行预测。2.根据权利要求1所述的光纤余长及光缆寿命预测的方法，其特征在于，计算每种环境影响因素相应的光缆比载，根据光缆比载计算光纤余长，包括以下步骤：根据光缆所受雷击影响因素计算出光缆受雷击影响的比载；和/或，根据光缆所受覆冰影响因素计算出光缆受覆冰影响的比载；和/或，根据光缆所受风摆影响因素和所受覆冰影响因素计算出光缆受风摆影响的比载；根据光缆受雷击影响的比载、受覆冰影响的比载和受风摆影响的比载，结合温度信息计算出当前状态光缆所受的应力，根据应力计算当前状态下的光纤余长。3.根据权利要求2所述的光纤余长及光缆寿命预测的方法，其特征在于，所述根据光缆所受雷击影响因素计算出光缆受雷击影响的比载，具体包括：当雷击电流大于光缆的最大承受电流时，对光缆进行退役处理；当雷击电流小于光缆的最大承受电流时，以光缆的自重比载作为光缆受雷击影响的比载。4.根据权利要求2所述的光纤余长及光缆寿命预测的方法，其特征在于，所述根据光缆所受覆冰影响因素计算出光缆受覆冰影响的比载，具体包括：当光缆有覆冰影响时，根据光缆的自重比载以及冰重比载共同计算光缆受覆冰影响的比载；当光缆没有覆冰影响时，以光缆的自重比载作为光缆受覆冰影响的比载。5.根据权利要求2所述的光纤余长及光缆寿命预测的方法，其特征在于，所述根据光缆所受风摆影响因素和所受覆冰影响因素计算出光缆受风摆影响的比载，具体包括：当光缆有风摆影响且无覆冰影响时，根据光缆的自重比载以及风压比载计算光缆受风摆影响的比载；当光缆无风摆影响且有覆冰影响时，根据光缆的自重比载以及冰重比载计算光缆受风摆...

【专利技术属性】
技术研发人员：李源，朱家烨，牛孟超，
申请(专利权)人：华中师范大学，
类型：发明
国别省市：