温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种用于复合绝缘子表面污秽状态的检测方法及系统，包括：采集污秽绝缘子的高光谱图像，获取绝缘子区域的像素点的高光谱数据和感兴趣区域的平均光谱数据；根据高光谱数据和平均光谱数据，构建高光谱数据库，通过黑白校正、标准正态变换以及去除趋...
该专利属于华北电力大学（保定）所有，仅供学习研究参考，未经过华北电力大学（保定）授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。