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本申请提出一种实体对齐方法、装置、电子设备及存储介质,方法包括:将源实体的第一实体特征投影到源实体对应的目标超平面上,得到源实体的第一投影特征;将第一投影特征与目标知识图谱中的实体对应的第二投影特征进行对比,根据对比结果从目标知识图谱中选取...该专利属于科大讯飞(苏州)科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过科大讯飞(苏州)科技有限公司授权不得商用。
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