下载一种集成电路封装测试装置用抗压检测设备及其使用方法的技术资料

文档序号:38341700

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本发明涉及集成电路领域,具体的说是一种集成电路封装测试装置用抗压检测设备及其使用方法,包括:检测箱;自动按压机构,用于对集成电路引脚进行抗压检测的自动按压机构贯穿安装于检测箱的内腔;通过设置自动按压机构,在对集成电路引脚按压测试时,伺服电机...
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