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本发明涉及光学测量技术领域，特别涉及一种用于磁光克尔测量的模式切换设备及磁光克尔测量设备，包括光学面板，设有至少两个电磁铁安装位，至少两个电磁铁安装位沿X轴方向分布设置于光学面板的板体上；龙门架组件，设置于光学面板上；切换机构，包括X轴切换...
该专利属于赫智科技（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过赫智科技（苏州）有限公司授权不得商用。

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