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基于深度学习的样品定位制造技术
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下载基于深度学习的样品定位的技术资料
文档序号:38323331
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基于深度学习的样品定位。本文公开科学仪器支持系统,以及相关的方法、计算装置和计算机可读介质。举例来说,在一些实施例中,一种用于由显微镜确定样品位置和相关联的载物台坐标的方法至少包括:使用导航相机获取装载在夹具上的多个样品的图像,所述图像在包...
该专利属于FEI公司所有,仅供学习研究参考,未经过FEI公司授权不得商用。
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