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本发明提供了一种芯片测试设备及方法，所述芯片测试设备包括：芯片测试板，及处理器和用于装配被测芯片的芯片固定座，且装配到所述芯片固定座的被测芯片经由所述芯片固定座与所述处理器电连接；第一固定组件；第二固定组件，设于所述预设位置上方并包括固定板...
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