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本发明涉及芯片编带外观检测技术领域，具体地说，涉及一种双流道的芯片编带外观缺陷检测设备。包括设备主体；设备主体处设有平行布置的两条用于输送芯片编带的输送流道；设备主体处还布置有用于对两条输送流道处的芯片编带交替进行外观采图以识别检测的多站式...
该专利属于宁波九纵智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过宁波九纵智能科技有限公司授权不得商用。

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