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本发明公开了一种芯片数据保持时间的预测方法及装置、存储介质、终端，涉及芯片检测技术领域，主要目的在于解决现有芯片数据保持时间预测的不够准确的问题。包括：获取芯片的物理参数和第一数据保持时间，所述物理参数用于标识所述芯片当前运行状态，所述第一...
该专利属于武汉置富半导体技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉置富半导体技术有限公司授权不得商用。

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