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本实用新型公开了半导体芯片缺陷检测用定位工装，包括固定架和底架；所述底架外侧螺栓连接有带动传动轴进行转动的电机，所述传动轴的动力输出端与支杆A的动力输入端相连，所述支杆A一侧焊接有对半导体芯片进行固定的连接板A，所述底架一侧螺纹连接有带动连...
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