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本申请涉及半导体测试技术领域，提供了一种用于半导体元件的测试装置。该测试装置包括承载机架、支撑滑道和感应组件：支撑滑道安装于承载机架上，支撑滑道限定出用于测试托盘移动的第一路径；感应组件安装于承载机架，并避让开第一路径设置；感应组件具有多个...
该专利属于杭州长川科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州长川科技股份有限公司授权不得商用。

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