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本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种基于芯片设计源码的信号检查方法、电子设备和介质，方法包括步骤S1、获取待测芯片设计源码和对应的待测信号列表；步骤S2、基于待测芯片设计源码对每一待追踪信号进行追踪：若待追踪信号无连接或者待追踪信号连接至固...
该专利属于上海合见工业软件集团有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海合见工业软件集团有限公司授权不得商用。

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